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JESD22-A119A-2015低溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)

說明：在不加任何偏壓情況下，藉由模擬低溫環(huán)境評(píng)定產(chǎn)品于長(zhǎng)時(shí)間承受與對(duì)抗低溫的能力，此試驗(yàn)過程不施加偏壓，試驗(yàn)結(jié)束后回到常溫才能夠進(jìn)行電性測(cè)試

推薦設(shè)備：TEC

IEC 60068-2-3 試驗(yàn)方法 Ca：穩(wěn)態(tài)濕熱

1．測(cè)試目的：

本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其它產(chǎn)品于定溫(constant temperature)、高相對(duì)濕度環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

２．范圍

本試驗(yàn)法可同時(shí)適用于生熱(heat-dissipating)及不生熱(non heat -dissipating)試件。

３．無限制。

４．測(cè)試步驟：

4.1 試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

4.2 試件放入試驗(yàn)柜中之情況必須符合相關(guān)規(guī)范，試件入柜后為避免在試件上形成水珠，最好事先將試件溫度預(yù)熱至試驗(yàn)柜中之溫度條件。

4.3 試件依規(guī)定之駐留加以保溫。